Skip to main content

Login for students

Login for employees

Publication detail

Photoinduced phenomena in amorphous chalcogenide thin films studied by variable angle spectroscopic ellipsometry.
Authors: Němec Petr | Frumar Miloslav
Year: 2008
Type of publication: článek ve sborníku
Name of source: 1st European School on Ellipsometry
Publisher name: NanoCharm
Place: Bari
Page from-to: A25
Titles:
Language Name Abstract Keywords
cze Fotoindukované jevy v amorfních chalkogenidových tenkých vrstvách studované spektrální elipsometrií s proměnným úhlem dopadu. Spektrální elipsometrií s proměnným úhlem dopadu byly studovány fotoindukované jevy v amorfních chalkogenidových tenkých vrstvách . amorfní chalkogenidy, tenké vrstvy, spektrální elipsometrie, fotoindukované jevy
eng Photoinduced phenomena in amorphous chalcogenide thin films studied by variable angle spectroscopic ellipsometry. Photoinduced phenomena in amorphous chalcogenide thin films were studied by variable angle spectroscopic ellipsometry. amorphous chalcogenides, thin films, spectroscopic ellipsometry, photoinduced phenomena