Skip to main content

Login for students

Login for employees

Publication detail

Optical Properties and Phase Change Transition in Ge2Sb2Te5 Flash Evaporated Thin Films Studied by Temperature Dependent Spectroscopic Ellipsometry.
Authors: Orava | Wágner Tomáš | Šik | Přikryl | Frumar Miloslav | Beneš Ludvík
Year: 2008
Type of publication: článek v odborném periodiku
Name of source: Journal of Applied Physics
Publisher name: American Institute of Physics
Place: Melville
Page from-to: 043523-1-043523-9
Titles:
Language Name Abstract Keywords
cze Optické vlastnosti a fázový přechod v tenkých vrstvách Ge2Sb2Te5 připravených mžikovým napařováním studované teplotně závislou spektroskopickou elipsometrií. Teplotně závislou spektroskopickou elipsometrií byly studovány optické vlastnosti a fázový přechod v tenkých vrstvách Ge2Sb2Te5 připravených mžikovým napařováním. amorfní chalkogenidy, tenké vrstvy, fázové změny, elipsometrie
eng Optical Properties and Phase Change Transition in Ge2Sb2Te5 Flash Evaporated Thin Films Studied by Temperature Dependent Spectroscopic Ellipsometry. Optical properties and phase change transition in Ge2Sb2Te5 flash evaporated thin films were studied by temperature dependent spectroscopic ellipsometry. amorphous chalcogenides, thin films, phase transitions, ellipsometry