Publication detail

Photo-expansion in Ge-As-S amorphous film monitored by digital holographic microscopy and atomic force microscopy.

Authors: Knotek Petr | Arsova D | Vateva E | Tichý Ladislav

Year: 2009

Type of publication: článek v odborném periodiku

Name of source: Journal of Optoelectronics and Advanced Materials

Publisher name: National Institute of Optoelectronics

Place: Bukurešť

Page from-to: 391-394

Titles:

Language	Name	Abstract	Keywords
cze	Fotoexpanze amorfních filmů Ge-As-S sledovaná pomocí digitálního holografického mikroskopu a mikroskopu atomárních sil.	Pomocí digitálního holografického mikroskopu a AFM byla pozorována fotoexpanze velikosti 3,5% z panenského tak i temperovaného Ge26As7S67 filmu o tloušťce 740nm. Tato expanze byla stabilní, jelikož i po roce byla zřetelná v nezměněné velikosti u panenského filmu, kdežto temperovaný zrelaxoval ve stejné době z 26 na 19nm.	digitální holografický microskop
eng	Photo-expansion in Ge-As-S amorphous film monitored by digital holographic microscopy and atomic force microscopy.	Using Digital Holographic Microscopy and Atomic Force Microscopy we unambiguously observed considerable photoexpansion at around 3.5% in virgin as well as in annealed Ge26As7S67 amorphous films having the thickness aroound 740 nm. This photo-expansion seems to be relatively stable, since after one year ageing its value decreased from 26nm to 19nm in annealed film, while no relaxation was observed for virgin film.	digital holographic microscopy

Search