Publication detail

Optical properties and scanning probe microscopy study of some Ag-As-S-Se amorphous films.

Authors: Knotek Petr | Tasseva J. | Petkov K. | Kincl Miloslav | Tichý Ladislav

Year: 2009

Type of publication: článek v odborném periodiku

Name of source: Thin Solid Films

Publisher name: Elsevier Science BV

Place: Amsterdam

Page from-to: 5943-5947

Titles:

Language	Name	Abstract	Keywords
cze	Optické vlastnosti a studie pomocí SPM amorfních filmů systému Ag-As-S-Se.	Dotování As-S-Se filmů pomocí fotodifuze stříbra vedlo k poklesu hodnoty optického gapu a k růstu indexu lomu. Změny ve srovnání s nedotovaným systémem dosahovaly pro Ag15As26S29Se30 film hodnot 0.37 eV a 0.26. Materiály byly sledovány za pomoci transreflektivity ve vzdálenosti IR oblasti (formace AgAsS2 a AgAsSe2 entit) a mikroskopie skenující sondou, zejména mikroskopií atomárních sil v modech akustické a kelvinovské mikroskopie (důkaz nehomogenit v nano/meso měřítku na povrchových a podpovrchových vrstvách jak v hustotě/tuhosti tak povrchovém elektrickém potenciálu).	amorfní filmy
eng	Optical properties and scanning probe microscopy study of some Ag-As-S-Se amorphous films.	Doping of As-S-Se amorphous films by silver photo-dissolution leads to a decrease of the optical gap and to an increase of the refractive index in forming Ag-As-S-Se films. The difference of the optical gap and refractive index between undoped and doped films has been found in case of Ag15As26S29Se30 film up to 0.37 eV and 0.26 respectively. The materials were studied by means of Transreflectance in far infrared spectral region (formation of AgAsS2 and AgAsSe2 entities), scanning probe microscopy, namely atomic force microscopy, atomic force microscopy and Kelvin probe force microscopy (nano/meso inhomogeneities of the surface and near surface density/stiffness/surface electric potential).	amorphous materials

Search

Login for students

Login for employees

Publication detail

Departments

Other Parts

Map

Services

Popular Links