Skip to main content

Login for students

Login for employees

Publication detail

On the atomic structure of thin amorphous Ge-Sb-Te films
Authors: Frumar Miloslav | Kohoutek Tomáš | Přikryl Jan | Orava Jiří | Wágner Tomáš
Year: 2009
Type of publication: článek v odborném periodiku
Name of source: Physica Status Solidi B: Basic Solid State Physics
Publisher name: Wiley-VCH
Place: Weinheim
Page from-to: 1871-1874
Titles:
Language Name Abstract Keywords
cze Atomová struktura amorfních tenkých vrstev Ge-Sb-Te Struktura amorfních mřikově napařených tenkých vrstev Ge-Sb-Te byly studována vysoko-rozlišovaní transmisní elektronovou mikroskopií a rentgenovou difrakcí. Chalkogenidy, Optické paměti, Transmisni elektronova mikroskopie, Rentgenova diffrakce
eng On the atomic structure of thin amorphous Ge-Sb-Te films The structure of thin films of Ge2Sb2Te5 was studied by highresolution transmission electron microscopy (HRTEM) and by X-ray diffraction (XRD). Chalcogenides, Phase change memories, Transmission electron microscopy, X-ray diffraction