Publication detail

Optical characterization of As-Ge-S thin films

Authors: Stronski A.V. | Vlček Miroslav | Tolmachov I.D. | Pribylova H.

Year: 2009

Type of publication: článek v odborném periodiku

Name of source: Journal of Optoelectronics and Advanced Materials

Publisher name: National Institute of Optoelectronics

Place: Bukurešť

Page from-to: 1581-1585

Titles:

Language	Name	Abstract	Keywords
cze	Charakterizace optických vlastností As-Ge-S tenkých vrstev	S využitím Swanepoelovy metody byly charakterizovány optické parametry tenkých vrstev o složení As12,6Ge23,8S63,6. Studium Ramanových spekter bulků a tenkých vrstev prokázalo přítomnost intrinsických nanoheterogenit. Byly rovněž vypočtem stanoveny nelineární optické vlastnosti, které jsou o dva řády vyšší oproti křemennému sklu	optické vlastnosti;chalkogenidové sklo;index lomu;optická nelinearita
eng	Optical characterization of As-Ge-S thin films	Optical characterization of As12.6Ge23.8S63.6 thin films was made from transmission spectra measurements using Swanepoel method. Spectral dependences of refractive index were well described by single oscillator model. Raman spectra of initial bulk glasses and evaporated films have shown the presence of the nanoscale intrinsic heterogeneities. Nonlinear optical properties of the films were estimated from optical parameters using different approaches and they were found to be more than two orders of magnitude higher then those of silica glasses	optical properties;chalcogenide glass;refractive index;optical nonlinearity

Search