Publication detail

Effect of thallium on the optical properties and structure of thin As-S-Tl films.

Authors: Petkov Kiril | Todorov R | Kincl Miloslav | Tichý Ladislav

Year: 2005

Type of publication: článek v odborném periodiku

Name of source: Journal of Optoelectronics and Advanced Materials

Publisher name: National Institute of Optoelectronics

Place: Bukurešť

Page from-to: 2587-2594

Titles:

Language	Name	Abstract	Keywords
cze	Vliv thalia na optické vlastnosti a strukturu tenkých vrstev As-S-Tl.	Pomocí tepelného vypařování byly napařeny tenké vrstvy ze systému )As2Se3)100-xTlx (X:0-15) na Si, grafit a substráty z optického skla BK-7. Z propustných a odrazivostních měření tenkých vrstev byly stanoveny index lomu, tloušťka vrstvy, optický gap, energie oscilátoru a disperzní energie před a po světelné expozici. Z infračervených spektroskopických měření se při 10%Tl objevuje ternární sloučenina TlAsS2.	chalkogenidové tenké vrstvy
eng	Effect of thallium on the optical properties and structure of thin As-S-Tl films.	Thin films from system (As2S3)100-xTl (x:0-15) were deposited by thermal evaporation on Si, graphite and optical glass substrates BK-7. From transmission and reflection measurements of the thin films, the refractive index, film thickness, optical band gap, oscilator energy and dispersion energy before and after exposure to light were determinated. From infrared spectroscopy measurements a ternary TlAsS2 compound appears 10%Tl.	chalcogenide thin films

Search