Skip to main content

Login for students

Login for employees

Publication detail

Convergence properties of critical dimension measurements by spectroscopic ellipsometry on gratings made of various materials
Authors: Antoš | Pištora | Mistrík Jan | Yamaguchi | Yamaguchi | Horie | Višnovský | Otani
Year: 2006
Type of publication: článek v odborném periodiku
Name of source: Journal of Applied Physics
Publisher name: American Institute of Physics
Place: Melville
Page from-to: 054906-054917
Titles:
Language Name Abstract Keywords
cze Měření kritických rozměrů rozměrů mřížek z různých materiálů pomocí spktroskopické elipsometrie a jejich konvergenční chrakter Je popsáno měření kritických rozměrů rozměrů mřížek z různých materiálů pomocí spktroskopické elipsometrie a jejich konvergenční chrakter.
eng Convergence properties of critical dimension measurements by spectroscopic ellipsometry on gratings made of various materials Convergence properties of critical dimension measurements by spectroscopic ellipsometry on gratings made of various materials are presented spectroscopic ellipsometry;critical dimension measurements;ellipsometry on gratings