Skip to main content

Login for students

Login for employees

Publication detail

Ge-Sb-Te thin films prepared by pulsed laser deposition: A Raman and XRD study
Authors: Němec Petr | Nazabal Virginie | Moreac A. | Beneš Ludvík | Gutwirth Jan | Frumar Miloslav
Year: 2010
Type of publication: ostatní - přednáška nebo poster
Page from-to: nestránkováno
Titles:
Language Name Abstract Keywords
cze Tenké vrstvy Ge-Sb-Te připravené pulzní laserovou depozicí: Ramanova a XRD studie Struktura tenkých vrstev Ge-Sb-Te připravených pulzní laserovou depozicí byla studována Ramanovou technikou a rentgenovou difrakcí. amorfní chalkogenidy; pulzní laserová depozice; struktura; Ge-Sb-Te
eng Ge-Sb-Te thin films prepared by pulsed laser deposition: A Raman and XRD study Structure of Ge-Sb-Te thin films prepared by pulsed laser deposition is studied by Raman and XRD techniques. amorphous chalcogenides; pulsed laser deposition; structure; Ge-Sb-Te