Skip to main content

Login for students

Login for employees

Publication detail

Properties of Au nanolayer sputtered on polyethyleneterephthalate
Authors: Švorčík Václav | Kolská Z | Luxbacher T | Mistrík Jan
Year: 2010
Type of publication: článek v odborném periodiku
Name of source: Materials Letters
Publisher name: Elsevier Science BV
Place: Amsterdam
Page from-to: 611-613
Titles:
Language Name Abstract Keywords
cze Vlastnosti Au nanovrstev naprašovaných na polyethyleneterephthalát Byla provedena charakterizace tenkých Au filmů (20 nm) naprášených na polyethyleneterephthalátu (PET) a to měřením AFM, XRD, zeta potenciálu a spektroskopické elipsometrie. Naprášené Au filmy vykazují rozdílnou povrchovou morfologii a drsnost v porovnání s PET. Měřením XRD tenkých 20 nm Au vrstev bylo zjištěno, že Au krystalizuje ve směru (111) s mřížkovým parametrem a = 0.40769 nm, hustotou 19.338 gcm(-3) a mřížkovým napětím okolo 230 MPa. Měřením zeta potenciálu byla zjištěna vyšší povrchová vodivost Au/PET vrstvy. Tloušťka zlaté vrstvy zjištěná spektroskopickou elipsometrií 19.4 nm je v dobré shodě s tloušťkou vrstvy zjištěnou z AFM měření odhadnutou na 20 nm. polyethyleneterephthalát; Au naprašované vrstvy; optické a povrchové vlastnosti; krystalická struktura
eng Properties of Au nanolayer sputtered on polyethyleneterephthalate AFM, XRD, zeta potential measurement and spectroscopic ellipsometry were used for characterization of thin (20 nm) Au films sputtered onto polyethyleneterephthalate (PET). Sputtered Au film shows significantly different Surface morphology and roughness in comparison with pristine PET. From XRD measurement of 20 nm thick sputtered Au layers it was found that Au crystalizes preferentially in (1 1 1) direction with lattice parameter of a = 0.40769 nm, density of 19.338 gcm(-3) and lattice stress of about 230 MPa. Higher surface conductance of Au/PET by zeta-potential measurement was found. Au layer thickness of 19.4 nm determined from spectroscopic ellipsometry was in good agreement with the AFM estimated value of 20 nm. Polyethyleneterephthalate; Au sputtered layer; Optical and surface properties; Crystallic structure