Login for students

Login for employees

Publication detail

Solid-state field-assisted silver diffusion in (TeO2)(0.6)(WO3)(0.25)(La2O3)(0.05)(Na2O)(0.1) glass
Authors: Stepanov Boris | Wágner Tomáš | Lorinčík J. | Frumar Miloslav | Churbanov M. F. | Chigirinsky Yu. I.
Year: 2012
Type of publication: článek v odborném periodiku
Name of source: Inorganic Materials
Publisher name: Springer
Page from-to: 642-647
Titles:
Language Name Abstract Keywords
cze Elektrickým polem řízená difuze stříbra v pevné fázi (TeO2)(0.6)(WO3)(0.25)(La2O3)(0.05)(Na2O)(0.1) Stříbrem dopovaná vrstva ve skle o složení (TeO2)(0.6)(WO3)(0.25)(La2O3)(0.05)(Na2O)(0.1) byla připravena pomocí elektrickým polem řízené difuze v pevné fázi. Koncentrační profil stříbra ve skle byl určen metodou SIMS a RBS. Metodovu Matano Boltzmanna na difuzní profily vzniklé termickou aktivací bylo zjištěno, že difuzní koeficient stříbra ve skle závisí jen slabě na koncentraci stříbra. Byla nalezena dobrá shoda tohoto modelu, který byl aplikován na experimentální data a koncentrace po elektrickým polem řízené difuzi. S využitím dat RBS byla kvantitativně určena povrchová hustota stříbra. Kombinací výsledků SIMS a RBS byla určena absolutní koncentrace stříbra do hloubky. Výsledky demonstrují, že elektrickým polem řízená difuze je jednoduchý a efektivní způsob dopování skel s cílem vytvoření planárních vlnovodů. iontová výměna; telluričitá skla; vlnovody
eng Solid-state field-assisted silver diffusion in (TeO2)(0.6)(WO3)(0.25)(La2O3)(0.05)(Na2O)(0.1) glass Silver-doped layers have been produced in (TeO2)(0.6)(WO3)(0.25)(La2O3)(0.05)(Na2O)(0.1) (TWLN) glass by solid-state field-assisted diffusion. The silver concentration profile in the glass has been determined by secondary ion mass spectrometry (SIMS) and Rutherford backscattering spectrometry (RBS). The Matano-Boltzmann method applied to thermally activated diffusion indicates that the silver diffusion coefficient in the glass is a weak function of silver concentration. We carried out modeling of silver concentration profiles in the doped layer of the TWLN glass after solid-state field-assisted diffusion. Good agreement of the theoretical fit and experimental data suggests that the model chosen can be used to describe solid-state field-assisted diffusion of silver ions in TWLN glasses. Using RBS data, we have quantitatively estimated the surface density of silver atoms after field-assisted diffusion. Combining SIMS and RBS, we were able to assess the absolute silver concentration depth profile. Our results demonstrate that field-assisted diffusion, a simple and effective procedure for doping optical glasses, can be used to produce planar waveguide structures based on the tellurite glass studied here. ion-exchange; tellurite glasses, wave-guide

Departments

Other Parts

Map

en.mapy.cz

Services

Popular Links

© 2023 University of Pardubice, Studentská 95, 532 10 Pardubice 2
Phone: +420 466 036 111, 466 036 112, 466 036 113
Webmaster, RSS
Data box ID: f5vj9hu
Accessibility Statement
CC BY-NC-ND 4.0Creative CommonsAttributionNonCommercialNoDerivatives