Skip to main content

Login for students

Login for employees

Publication detail

Skla systému Ge-S-Te
Authors: Holubová Jana | Černošková Eva | Černošek Zdeněk | Chromčíková Mária
Year: 2012
Type of publication: článek ve sborníku
Name of source: Sborník příspěvků: 34. Mezinárodní český a slovenský kalorimetrický seminář
Publisher name: Univerzita Pardubice
Place: Pardubice
Page from-to: 155-158
Titles:
Language Name Abstract Keywords
cze Skla systému Ge-S-Te Byly studovány základní termoanalytické charakteristiky a struktura potenciálně technicky zajímavého sklotvorného systému Ge20S(80-x)Tex diferenční skenovaní kalorimetrií a Ramanovou spektroskopií. Bylo zjištěno, že systém je možno rozdělit do dvou skupin, podle tendence jeho podchlazených tavenin ke krystalizaci při ohřevu. Podchlazené taveniny s obsahem telluru menším než 20 at.% nekrystalují. Při obsahu telluru 20 at.% a více již ke krystalizaci v různé míře dochází. Zajímavá jsou skla s 50 až 70 at.% Te, jejichž podchlazená tavenina se rozpadá na fázi bohatou sírou a binární fázi Ge-Te, která se dále rozpadá na eutektické složení Ge15Te85, Te a Ge50Te50. Ge-S-Te systém; DSC; Ramanova spektroskopie;
eng Glassy system Ge20S(60-x)Tex The glassy system Ge20S(60-x)Tex (x = 0, 5, 10, 15, 20, 30, 40, 50, 60, 70 and 80) was studied by differntial scanning calorimetry and Raman spectroscopy. Based on experimental results it was found that system under study can be divided into two groups according to crystallization abillity of undercooled melts. Glasses belonging into the first group are those ones with low concentration of tellurium (less then 20 at.%) and their undercooled melts are resistant to crystallization. The second group represents glasses the undercooled melts of which undergoes phase separation and crystallization during heating. In addition, it was found in the case of glasses with x > 40 that tellurium-rich phase is further broken down into two phases with higher and lower content of tellurium compare to the eutectic composition Ge15Te85. Glassy system Ge20S60-xTex; DSC; Raman spectra