Login for students

Login for employees

Publication detail

Měření tloušťky transparentních mikrovrstev na transparentním substrátu a optický kalibr
Authors: Dohnal Miroslav
Year: 2010
Type of publication: patent
Publisher name: Úřad průmyslového vlastnictví
Place: Praha
Page from-to: nestránkováno
Titles:
Language Name Abstract Keywords
cze Měření tloušťky transparentních mikrovrstev na transparentním substrátu a optický kalibr Měření tloušťky transparentních mikrovrstev na transparentním substrátu spočívá v tom, že se měří světelná propustnost (T) transparentní mikrovrstvy materiálu naneseného na transparentním substrátu a jednak kontinuálně se měnící světelná propustnost (T<SUB>e</SUB>) transparentní mikrovrstvy stejného materiálu, mající známou a kontinuálně se měnící tloušťku, umístěnou v optickém kalibru, přičemž porovnáním světelné propustnosti (T) transparentní mikrovrstvy materiálu naneseného na transparentním substrátu se shodnou světelnou propustností (T<SUB>e</SUB>) známé tloušťky transparentní mikrovrstvy stejného materiálu v optickém kalibru se stanoví tloušťka transparentní mikrovrstvy materiálu naneseného na transparentním substrátu. Optický kalibr (7) je optický lineární klín (13) nebo optický sférický klín (12) tvořený prvním skleněným členem, na kterém je nanesena barvová mikrovrstva (8) vytvořená přiložením příslušně tvarovaného druhého skleněného členu na první skleněný člen, přičemž barvová mikrovrstva (8) má exaktní definicí kontinuálně se měnící tloušťky. měření tloušťky; transparentní mikrovrstva; optický kalibr
eng Measurement of thickness of transparent microlayers on a transparent substrate and optical caliber Measurement of thickness of transparent microlayers on a transparent substrate is that it measures the light transmittance (T) mikrovrstvy transparent material deposited on a transparent substrate and a second continuously varying luminous transmittance (T <SUB> e </ SUB>) mikrovrstvy same transparent material having known and continuously varying thickness, placed in an optical gauge, while comparing the light transmittance (T) mikrovrstvy transparent material deposited on a transparent substrate with the same luminous transmittance (T <SUB> e </ SUB>) of known thickness transparent mikrovrstvy same material in the optical gauge the thickness of the transparent mikrovrstvy material deposited on a transparent substrate. Measurement of thickness; transparent microlayer; optical; caliber

Departments

Other Parts

Map

en.mapy.cz

Services

Popular Links

© 2023 University of Pardubice, Studentská 95, 532 10 Pardubice 2
Phone: +420 466 036 111, 466 036 112, 466 036 113
Webmaster, RSS
Data box ID: f5vj9hu
Accessibility Statement
CC BY-NC-ND 4.0Creative CommonsAttributionNonCommercialNoDerivatives