University of PardubiceFaculty of Chemical Technology

University

Employees
|
Students
Česky

Publication detail

Mikroskopie atomárních sil: Od zobrazení jednotlivých atomů až ke tkáňovému inženýrství.

Authors: Knotek Petr

Year: 2014

Type of publication: ostatní - přednáška nebo poster

Page from-to: nestránkováno

Titles:

Language	Name	Abstract	Keywords
cze	Mikroskopie atomárních sil: Od zobrazení jednotlivých atomů až ke tkáňovému inženýrství.	Nanotechnologie využívá na začátku 21. století mikroskopií jako klíčových charakterizačních technik. Vzhledem k velikosti zobrazovaných částic není ale možné používat běžné optické mikroskopy, ale využívá se zejména mikroskopie atomárních sil nebo elektronových mikroskopií. V této přednášce budou shrnuty základní informace o mikroskopii atomárních sil (AFM), základním principu a měřících modech. Potenciál metody bude ukázán na různých příkladových studiích, které budou zahrnovat atomární rozlišení, aplikaci v materiálovém výzkumu tenkých chalkogenidových filmů, tkáňovým inženýrství či materiálů pro řízenou distribuci léčiv.	atomic force microscopy; application