Skip to main content

Login for students

Login for employees

Publication detail

Paměti využívající migraci iontů
Authors: Hrbek Tomáš | Fraenkl Max | Zhang Bo | Wágner Tomáš
Year: 2016
Type of publication: ostatní - přednáška nebo poster
Page from-to: nestránkováno
Titles:
Language Name Abstract Keywords
cze Paměti využívající migraci iontů Chalkogenidová skla dopovaná Ag, především Ag-Ge-Sb-S systém, byla diskutována s ohledem na jejich optické a elektrické vlastnosti. Byl prezentován efekt nanostrukturování kontaktů a aktivních elektrod na spínací charakteristiky. Iontové paměti; chalkogenidová skla; spínání