Publication detail

Bismuth acetate by XPS

Authors: Rodriguez Pereira Jhonatan | Rincon-Ortiz Sergio A | Ospina Rogelio

Year: 2020

Type of publication: článek v odborném periodiku

Name of source: Surface Science Spectra

Publisher name: American Institute of Physics

Place: Melville

Page from-to: "024001-1"-"024001-7"

Titles:

Language	Name	Abstract	Keywords
cze	Octan bismutitý analyzovaný pomocí XPS	Octan bismutitý byl analyzován pomocí rentgenové fotoelektronové spektroskopie (XPS). Vzorek představoval prášek od společnosti Sigma Aldrich. Vzorek byl uchycen na ocelový držák a mědenou oboustrannou lepící 3M pásku. V přehledovém spektru byly měřeny struktury jader Bi 4f, O 1s, C 1s, Bi 4d, Bi 5d, Bi 6s a také spektra valenčních pásů. Kvantitativní analýza povrdila očekávanou stechiometrii vzorku.	octan bismutitý; XPS; prekurzor
eng	Bismuth acetate by XPS	Bismuth (III) acetate was analyzed using x-ray photoelectron spectroscopy. The specimen is a powder purchased from Sigma Aldrich. The sample was fixed to a stainless-steel sample holder with copper 3M(TM)double-sided adhesive tape. Survey spectra, Bi 4f, O 1s, C 1s, Bi 4d, Bi 5d, Bi 6s core levels, and valence band spectra were acquired. The results showed how the elements in the structure of bismuth acetate are related.	bismuth acetate; XPS; precursor

Search