Skip to main content

Login for students

Login for employees

Publication detail

Niobium ethoxide analyzed by XPS
Authors: Rincon-Ortiz Sergio A | Rodriguez Pereira Jhonatan | Ospina Rogelio
Year: 2020
Type of publication: článek v odborném periodiku
Name of source: Surface Science Spectra
Publisher name: American Institute of Physics
Place: Melville
Page from-to: "024014-1"-"024014-8"
Titles:
Language Name Abstract Keywords
cze Etoxid niobu analyzovaný pomocí XPS Etoxid niobu (V) byl analyzován pomocí rentgenové fotoelektronové spektroskopie (XPS). Vzorek představoval prášek od společnosti Sigma Aldrich. Vzorek byl uchycen na ocelový držák a mědenou oboustrannou lepící 3M pásku. V přehledovém spektru byly měřeny struktury jader Nb 3d, O 1s, C 1s, Nb 3p, Nb 4p, O 2s a také spektra valenčních pásů. Kvantitativní analýza povrdila očekávanou stechiometrii vzorku. etoxid niklu; XPS; prekurzor
eng Niobium ethoxide analyzed by XPS Niobium (V) ethoxide was characterized by x-ray photoelectron spectroscopy. The specimen is a powder purchased from Sigma Aldrich. The sample was fixed to a stainless-steel sample holder with a copper double-sided adhesive tape. Survey spectra, Nb 3d, O 1s, C 1s, Nb 3p, Nb 4p, O 2s core levels, and valence band spectra were acquired. Results showed how the elements in the niobium ethoxide structure are bonded. niobium ethoxide; XPS; precursor