Publication detail

Indium acetate analyzed by XPS

Authors: Rodriguez Pereira Jhonatan | Mercado David Alejandro Miranda | Ospina Rogelio

Year: 2023

Type of publication: článek v odborném periodiku

Name of source: Surface Science Spectra

Publisher name: American Institute of Physics

Place: Melville

Page from-to: 014013

Titles:

Language	Name	Abstract	Keywords
cze	Octan inditý analyzováný pomocí XPS	Octan inditý byl analyzován pomocí rentgenové fotoelektronové spektroskopie. Vzorkem byl prášek zakoupený od Sigma Aldrich. Vzorek byl připevněn k držáku vzorku z nerezové oceli měděnou 3M (TM) oboustrannou lepicí páskou. Byla získána průzkumná spektra In 3d, O 1s, C1s, In 3p, In MNN a Cl 2p jádra úrovní. Výsledky ukázaly, jak spolu souvisí prvky ve struktuře octanu india.	octan indium; XPS; prekursor; kyselina octová, indium; indiová sůl
eng	Indium acetate analyzed by XPS	Indium acetate was analyzed using x-ray photoelectron spectroscopy. The specimen is a powder purchased from Sigma Aldrich. The sample was fixed to a stainless-steel sample holder with copper 3M (TM) double-sided adhesive tape. Survey spectra, In 3d, O 1s, C 1s, In 3p, In MNN, and Cl 2p core levels spectra were acquired. Results showed how the elements in the structure of indium acetate are related.	Indium acetate; XPS; precursor; acetic acid indium; indium salt

Search