Login for students

Login for employees

Publication detail

Intrinsic properties of anodic TiO2 nanotube layers: In-situ XRD annealing of TiO2 nanotube layers
Authors: Sopha Hanna Ingrid | Spotz Zdenek | Sepulveda Sepulveda Lina Marcela | Alijani Mahnaz | Motola Martin | Hromádko Luděk | Macák Jan
Year: 2023
Type of publication: článek v odborném periodiku
Name of source: Ceramics International
Publisher name: Elsevier Science
Place: Oxford
Page from-to: 24293-24301
Titles:
Language Name Abstract Keywords
cze Vnitřní vlastnosti anodických vrstev nanotrubiček TiO2: In-situ XRD žíhání vrstev nanotrubiček TiO2 V této práci bylo provedeno in-situ žíhání vrstev TiO2 nanotrubiček (TNT) v XRD komoře, aby se detailně prozkoumal proces krystalizace vrstev TNT. Vrstvy TNT o různých tloušťkách, tj. 1, 5 a 20 um, a různé morfologie, tj. s dvojitou stěnou vs. s jednoduchou stěnou, byly žíhány v teplotním rozsahu od pokojové teploty do 500 °C se dvěma zřetelně odlišnými rychlostmi žíhání. Kromě toho byly zkoumány tři různé žíhací atmosféry, jmenovitě vzduch jako oxidační, N2 jako inertní a 5%H2/95%N2 jako redukční atmosféra. XRD paterny byly měřeny každých 15 stupňů Celsia rampy ohřevu a velikosti krystalitů fáze anatasu byly vypočteny z píku anatasu pomocí Schererovy rovnice v každém datovém bodě. Jsou popsány a diskutovány rozdíly v krystalizačním chování pro různé vrstvy TNT a také vliv žíhací atmosféry pro vrstvy TNT o tloušťce 5 um. vrstvy nanotrubiček Ti02; XRD in situ; Žíhání; Krystalizace
eng Intrinsic properties of anodic TiO2 nanotube layers: In-situ XRD annealing of TiO2 nanotube layers In this work, in-situ annealing of TiO2 nanotube (TNT) layers in an XRD chamber was carried out to investigate the crystallization process of the TNT layers in details. TNT layers of different thicknesses, i.e. 1, 5 and 20 & mu;m, and of different morphology, i.e. double wall vs. single wall, were annealed in the temperature range from room temperature to 500 degrees C with two distinctly different annealing rates. Additionally, three different annealing atmospheres were explored, namely air as an oxidative, N2 as an inert, and 5%H2/95%N2 as a reductive atmosphere. XRD patterns were measured every 15 degrees C of the heating ramp and the crystallite sizes of anatase phase were calculated from the anatase peak using Scherer equation at each data point. The differences in crystallization behavior for the different TNT layers as well as the effect of the annealing atmosphere for 5 & mu;m thick TNT layers are described and discussed. TiO 2 nanotube layers; In -situ XRD; Annealing; Crystallization

Departments

Other Parts

Map

en.mapy.cz

Services

Popular Links

© 2023 University of Pardubice, Studentská 95, 532 10 Pardubice 2
Phone: +420 466 036 111, 466 036 112, 466 036 113
Webmaster, RSS
Data box ID: f5vj9hu
Accessibility Statement
CC BY-NC-ND 4.0