Publikace detail
Characterization of RF magnetron sputtered Se-doped Ge2Sb2.3Te5 thin films.
Autoři:
Wágner Tomáš | Gutwirth | Orava | Přikryl | Bezdička | Bartoš | Vlček Milan | Frumar Miloslav
Rok:
2008
Druh publikace:
článek v odborném periodiku
Název zdroje:
Materials Research Society Symposium Proceedings
Název nakladatele:
MRS (Materials Research Society)
Místo vydání:
San Francisco
Strana od-do:
G05-07
