Publikace detail
Characterization of RF magnetron sputtered Ge2Sb2Te5 thin films towards PC RAM application.
Autoři:
Gutwirth | Wágner Tomáš | Bezdička | Přikryl | Vlček Milan | Frumar Miloslav
Rok: 2008
Druh publikace: článek ve sborníku
Název zdroje: Proceedings of ICTF14 & RSD2008
Název nakladatele: Ghent University
Místo vydání: Ghent
Strana od-do: 207-210