Přejít k hlavnímu obsahu

Přihlášení pro studenty

Přihlášení pro zaměstnance

Publikace detail

Stanovení nelineárního indexu lomu n2 exponovaných a neexponovaných tenkých vrstev systému As-Ge-S
Autoři: Ston Radek | Vlček Miroslav
Rok: 2003
Druh publikace: článek ve sborníku
Název zdroje: Chemické listy
Název nakladatele: Česká společnost chemická
Místo vydání: Praha
Strana od-do: 641
Tituly:
Jazyk Název Abstrakt Klíčová slova
cze Stanovení nelineárního indexu lomu n2 exponovaných a neexponovaných tenkých vrstev systému As-Ge-S Stanovení nelineárního indexu lomu n2 exponovaných a neexponovaných tenkých vrstev systému As-Ge-S
eng Stanovení nelineárního indexu lomu n2 exponovaných a neexponovaných tenkých vrstev systému As-Ge-S Stanovení nelineárního indexu lomu n2 exponovaných a neexponovaných tenkých vrstev systému As-Ge-S nonlinear index of refractive, thin film