Publikace detail

Optical properties and scanning probe microscopy study of some Ag-As-S-Se amorphous films.

Autoři: Knotek Petr | Tasseva J. | Petkov K. | Kincl Miloslav | Tichý Ladislav

Rok: 2009

Druh publikace: článek v odborném periodiku

Název zdroje: Thin Solid Films

Název nakladatele: Elsevier Science BV

Místo vydání: Amsterdam

Strana od-do: 5943-5947

Tituly:

Jazyk	Název	Abstrakt	Klíčová slova
cze	Optické vlastnosti a studie pomocí SPM amorfních filmů systému Ag-As-S-Se.	Dotování As-S-Se filmů pomocí fotodifuze stříbra vedlo k poklesu hodnoty optického gapu a k růstu indexu lomu. Změny ve srovnání s nedotovaným systémem dosahovaly pro Ag15As26S29Se30 film hodnot 0.37 eV a 0.26. Materiály byly sledovány za pomoci transreflektivity ve vzdálenosti IR oblasti (formace AgAsS2 a AgAsSe2 entit) a mikroskopie skenující sondou, zejména mikroskopií atomárních sil v modech akustické a kelvinovské mikroskopie (důkaz nehomogenit v nano/meso měřítku na povrchových a podpovrchových vrstvách jak v hustotě/tuhosti tak povrchovém elektrickém potenciálu).	amorfní filmy
eng	Optical properties and scanning probe microscopy study of some Ag-As-S-Se amorphous films.	Doping of As-S-Se amorphous films by silver photo-dissolution leads to a decrease of the optical gap and to an increase of the refractive index in forming Ag-As-S-Se films. The difference of the optical gap and refractive index between undoped and doped films has been found in case of Ag15As26S29Se30 film up to 0.37 eV and 0.26 respectively. The materials were studied by means of Transreflectance in far infrared spectral region (formation of AgAsS2 and AgAsSe2 entities), scanning probe microscopy, namely atomic force microscopy, atomic force microscopy and Kelvin probe force microscopy (nano/meso inhomogeneities of the surface and near surface density/stiffness/surface electric potential).	amorphous materials

Vyhledávání

Přihlášení pro studenty

Přihlášení pro zaměstnance

Publikace detail

Katedry

Ústavy a pracoviště

Jak nás najdete?

Služby

Často hledáte