Přejít k hlavnímu obsahu

Přihlášení pro studenty

Přihlášení pro zaměstnance

Publikace detail

On the atomic structure of thin amorphous Ge-Sb-Te films
Autoři: Frumar Miloslav | Kohoutek Tomáš | Přikryl Jan | Orava Jiří | Wágner Tomáš
Rok: 2009
Druh publikace: článek v odborném periodiku
Název zdroje: Physica Status Solidi B: Basic Solid State Physics
Název nakladatele: Wiley-VCH
Místo vydání: Weinheim
Strana od-do: 1871-1874
Tituly:
Jazyk Název Abstrakt Klíčová slova
cze Atomová struktura amorfních tenkých vrstev Ge-Sb-Te Struktura amorfních mřikově napařených tenkých vrstev Ge-Sb-Te byly studována vysoko-rozlišovaní transmisní elektronovou mikroskopií a rentgenovou difrakcí. Chalkogenidy, Optické paměti, Transmisni elektronova mikroskopie, Rentgenova diffrakce
eng On the atomic structure of thin amorphous Ge-Sb-Te films The structure of thin films of Ge2Sb2Te5 was studied by highresolution transmission electron microscopy (HRTEM) and by X-ray diffraction (XRD). Chalcogenides, Phase change memories, Transmission electron microscopy, X-ray diffraction