Přejít k hlavnímu obsahu

Přihlášení pro studenty

Přihlášení pro zaměstnance

Publikace detail

Photoinduced phenomena in amorphous As4Se3 pulsed laser deposited thin films studied by spectroscopic ellipsometry
Autoři: Němec Petr | Nazabal | Frumar Miloslav
Rok: 2009
Druh publikace: článek v odborném periodiku
Název zdroje: Journal of Applied Physics
Název nakladatele: American Institute of Physics
Místo vydání: Melville
Strana od-do: 0235091-0235097
Tituly:
Jazyk Název Abstrakt Klíčová slova
cze Fotoindukované jevy v amorfních, pulzním laserem deponovaných, tenkých vrstvách As4Se3 studované spektroskopickou elipsometrií Spektroskopickou elipsometrií byly studovány fotoindukované jevy v amorfních, pulzním laserem deponovaných, tenkých vrstvách As4Se3. amorfní chalkogenidy; pulzní laserová depozice; spektroskopická elipsometrie, fotoindukované jevy
eng Photoinduced phenomena in amorphous As4Se3 pulsed laser deposited thin films studied by spectroscopic ellipsometry Photoinduced phenomena in amorphous As4Se3 pulsed laser deposited thin films were studied by spectroscopic ellipsometry. amorphous chalcogenides; pulsed laser deposition; spectroscopic ellipsometry; photoinduced phenomena