Publikace detail
Ge-Sb-Te (GST) thin films deposited by pulsed laser: An ellipsometry and Raman scattering spectroscopy study
Autoři:
Němec Petr | Moreac | Nazabal | Pavlišta Martin | Přikryl | Frumar Miloslav
Rok: 2009
Druh publikace: článek v odborném periodiku
Název zdroje: Journal of Applied Physics
Název nakladatele: American Institute of Physics
Místo vydání: Melville
Strana od-do: 1035091-1035097