Publikace detail

Přímé sledování kinetiky růstu krystalů Sb2S3 ve sklovité matrici (GeS2)0.2 (Sb2S3)0.8.

Autoři: Švadlák Daniel | Málek Jiří

Rok: 2005

Druh publikace: ostatní - přednáška nebo poster

Název zdroje:

Název nakladatele:

Místo vydání:

Strana od-do:

Tituly:

Jazyk	Název	Abstrakt	Klíčová slova
cze	Přímé sledování kinetiky růstu krystalů Sb2S3 ve sklovité matrici (GeS2)0.2 (Sb2S3)0.8.	Pomocí optického mikroskopu Olympus BX60 byla sledována krystalizace ortorhombické formy Sb2S3 (stibnit) v pseudobinárnim skelném systému (GeS2)0.2 (Sb2S3)0.8. Měření růstu krystalů byla provedena v rozsahu teplot 252 °C až 282.5 °C za izotermních podmínek. Byla sledována časová závislost růstu krystalické fáze ve sklovité matrici a z ní byla určena rychlost růstu krystalů při dané teplotě.	optická mikroskopie, stibnit, krystalizace, Ge-Sb-S
eng	Přímé sledování kinetiky růstu krystalů Sb2S3 ve sklovité matrici (GeS2)0.2 (Sb2S3)0.8.	Crystallization of orthorhombic Sb2S3 (stibnite) in glassy (GeS2)0,2(Sb2S3)0,8 matrix was studied using optical microscope Olympus BX60. Crystal growth measurements were realized under isothermal conditions in the temperature range 252 ? 282.5 °C. The crystal growth rate was determined from time dependence of crystal growth in glassy matrix at adjusted temperature.	optical microscopy, stibnite, crystallization, Ge-Sb-S

Vyhledávání