Přejít k hlavnímu obsahu

Přihlášení pro studenty

Přihlášení pro zaměstnance

Publikace detail

Rare-earth doped chalcogenide thin films fabricated by pulsed laser deposition
Autoři: Dwivedi P.K. | Sun Y.W. | Tsui Y.Y. | Tonchev D. | Munzar Martin | Koughia Cyril
Rok: 2005
Druh publikace: článek v odborném periodiku
Název zdroje: Applied Surface Science
Název nakladatele: Elsevier Science BV
Místo vydání: Amsterdam
Strana od-do: 376-380
Tituly:
Jazyk Název Abstrakt Klíčová slova
cze Tenké verstvy chalkogenidů dotované vzácnými zeminami připravené metodou laserové ablace Erbiem dotované Ge?Ga?Se tenké vrstvy byly připraveny metodou laserové ablace (PLD)a byly studovány jejich vlastnosti. Amorphous chalcogenide; Thin film; Laser ablation; Pulsed laser deposition; Photoluminescence
eng Rare-earth doped chalcogenide thin films fabricated by pulsed laser deposition Erbium doped Ge?Ga?Se thin films were fabricated by the pulsed laser deposition (PLD) technique in vacuum using a KrF pulse laser with λ = 248 nm, and a pulse duration of 15 ns. The films were fabricated at room temperature onto glass substrates. The morphological, optical and thermal properties of the films showed good optical and thermal stability. The mechanical properties including film adhesion are relatively poor for thicker films and the microstructure reveals the presence of droplets. Annealing in vacuum improved the film adhesion and substantially enhanced the efficiency of photoluminescence. Amorphous chalcogenide; Thin film; Laser ablation; Pulsed laser deposition; Photoluminescence