Publikace detail

Ge-Sb-Te thin films prepared by pulsed laser deposition: A Raman and XRD study

Rok: 2010

Druh publikace: ostatní - přednáška nebo poster

Strana od-do: nestránkováno

Tituly:

Jazyk	Název	Abstrakt	Klíčová slova
cze	Tenké vrstvy Ge-Sb-Te připravené pulzní laserovou depozicí: Ramanova a XRD studie	Struktura tenkých vrstev Ge-Sb-Te připravených pulzní laserovou depozicí byla studována Ramanovou technikou a rentgenovou difrakcí.	amorfní chalkogenidy; pulzní laserová depozice; struktura; Ge-Sb-Te
eng	Ge-Sb-Te thin films prepared by pulsed laser deposition: A Raman and XRD study	Structure of Ge-Sb-Te thin films prepared by pulsed laser deposition is studied by Raman and XRD techniques.	amorphous chalcogenides; pulsed laser deposition; structure; Ge-Sb-Te

Vyhledávání