Přejít k hlavnímu obsahu

Přihlášení pro studenty

Přihlášení pro zaměstnance

Publikace detail

Structure and optical properties of pulsed laser deposited Ge-Sb-Te thin films by Raman scattering spectroscopy and spectroscopic ellipsometry.
Autoři: Němec Petr | Nazabal Virginie | Moreac Alain | Gutwirth Jan | Frumar Miloslav
Rok: 2011
Druh publikace: ostatní - přednáška nebo poster
Strana od-do: nestránkováno
Tituly:
Jazyk Název Abstrakt Klíčová slova
eng Structure and optical properties of pulsed laser deposited Ge-Sb-Te thin films by Raman scattering spectroscopy and spectroscopic ellipsometry. Structure and optical properties of pulsed laser deposited Ge-Sb-Te thin films were studied by Raman scattering spectroscopy and spectroscopic ellipsometry, respectively. Ge-Sb-Te; thin films; pulsed laser deposition; spectroscopic ellipsometry; Raman spectroscopy