Publikace detail

Crystallization in Se-Te thin films

Autoři: Málek Jiří | Barták Jaroslav | Segawa Hiroyo | Yamabe-Mitarai Yoko

Rok: 2012

Druh publikace: ostatní do riv

Název zdroje: European/Phase Change and Ovonics Symposium

Název nakladatele: E/PCOS

Místo vydání: Tampere

Strana od-do: 150-151

Tituly:

Jazyk	Název	Abstrakt	Klíčová slova
cze	Krystalizace tenkých filmů Se-Te	Krystalizační proces v Se100-xTex tenkých filmech byla studoivána přímým sledování růstu krystalů pomocí SEM a XRD. Experimentální data byla analyzována a popsána modelem 2D povrchově nukleovaného růstu a konvenčním JMA modelem.	Se-Te; krystalizace; tenký film; SEM; XRD
eng	Crystallization in Se-Te thin films	Crystallization process in Se100-xTex thin films (x = 10, 20) was studied by direct observation of crystal growth by using scanning electron microscopy (SEM) and in-situ X-ray diffraction (XRD). The experimental data were analyzed and described by 2D surface-nucleated model and conventional Johnson-Mehl-Avrami model.	Se-Te; crystallization; thin film; SEM; XRD

Vyhledávání