Publikace detail

Měření tloušťky transparentních mikrovrstev na transparentním substrátu a optický kalibr

Autoři: Dohnal Miroslav

Rok: 2010

Druh publikace: patent

Název nakladatele: Úřad průmyslového vlastnictví

Místo vydání: Praha

Strana od-do: nestránkováno

Tituly:

Jazyk	Název	Abstrakt	Klíčová slova
cze	Měření tloušťky transparentních mikrovrstev na transparentním substrátu a optický kalibr	Měření tloušťky transparentních mikrovrstev na transparentním substrátu spočívá v tom, že se měří světelná propustnost (T) transparentní mikrovrstvy materiálu naneseného na transparentním substrátu a jednak kontinuálně se měnící světelná propustnost (T<SUB>e</SUB>) transparentní mikrovrstvy stejného materiálu, mající známou a kontinuálně se měnící tloušťku, umístěnou v optickém kalibru, přičemž porovnáním světelné propustnosti (T) transparentní mikrovrstvy materiálu naneseného na transparentním substrátu se shodnou světelnou propustností (T<SUB>e</SUB>) známé tloušťky transparentní mikrovrstvy stejného materiálu v optickém kalibru se stanoví tloušťka transparentní mikrovrstvy materiálu naneseného na transparentním substrátu. Optický kalibr (7) je optický lineární klín (13) nebo optický sférický klín (12) tvořený prvním skleněným členem, na kterém je nanesena barvová mikrovrstva (8) vytvořená přiložením příslušně tvarovaného druhého skleněného členu na první skleněný člen, přičemž barvová mikrovrstva (8) má exaktní definicí kontinuálně se měnící tloušťky.	měření tloušťky; transparentní mikrovrstva; optický kalibr
eng	Measurement of thickness of transparent microlayers on a transparent substrate and optical caliber	Measurement of thickness of transparent microlayers on a transparent substrate is that it measures the light transmittance (T) mikrovrstvy transparent material deposited on a transparent substrate and a second continuously varying luminous transmittance (T <SUB> e </ SUB>) mikrovrstvy same transparent material having known and continuously varying thickness, placed in an optical gauge, while comparing the light transmittance (T) mikrovrstvy transparent material deposited on a transparent substrate with the same luminous transmittance (T <SUB> e </ SUB>) of known thickness transparent mikrovrstvy same material in the optical gauge the thickness of the transparent mikrovrstvy material deposited on a transparent substrate.	Measurement of thickness; transparent microlayer; optical; caliber

Vyhledávání

Přihlášení pro studenty

Přihlášení pro zaměstnance

Publikace detail

Katedry

Ústavy a pracoviště

Jak nás najdete?

Služby

Často hledáte