Publikace detail

Laser desorption ionization time-of-flight mass spectrometry of erbium-doped Ga-Ge-Sb-S glasses

Rok: 2014

Druh publikace: článek v odborném periodiku

Název zdroje: Rapid Communication in Mass Spectrometry

Název nakladatele: John Wiley & Sons Ltd.

Místo vydání: Chichester

Strana od-do: 1221-1232

Tituly:

Jazyk	Název	Abstrakt	Klíčová slova
cze	Time-of-flight hmotnostní spektrometrie s ionizací laserovou desorpcí skel Ga-Ge-Sb-S dotovaných erbiem	Tvorba klastrů v plazmatu ze skel Ga5Ge20Sb10S65 dotovaných erbiem (0.05, 0.1, and 0.5 hm. % erbia) za použití ionizace laserovou (337 nm) desorpcí byla studována time-of-flight hmotnostní spektrometrií v pozitivním i negativním iontovém módu. Byla nalezena řada GamGenSboSp+/- jednou nabitých klastrů, ale překvapivě pouze čtyři částice (Sb3S4+/-, GaSb2Sp+/- (p = 4, 5), Ga3Sb2S7+/-) byly společné pro oba iontové módy. Poprvé byly v plazmatu vznikajícím z chalkogenidových skel dotovaných vzácnými zeminami identifikovány částice obsahující vzácné zeminy (GaSb2SEr+ and GaS6Er2+) přímo potvrzující důležitost přítomnosti galia pro vazbu vzácných zemin se skelnou matricí.	chalkogenidová skla; hmotnostní spektrometrie; klastry; erbium
eng	Laser desorption ionization time-of-flight mass spectrometry of erbium-doped Ga-Ge-Sb-S glasses	The formation of clusters in plasma plume from erbium-doped Ga5Ge20Sb10S65 glasses (0.05, 0.1, and 0.5 wt. % of erbium) using laser (337 nm) desorption ionization was studied by time-of-flight mass spectrometry in both positive and negative ion mode. Several GamGenSboSp+/- singly charged clusters were found but, surprisingly, only four species (Sb3S4+/-, GaSb2Sp+/- (p = 4, 5), Ga3Sb2S7+/-) were common to both ion modes. For the first time, species containing rare earths (GaSb2SEr+ and GaS6Er2+) were identified in the plasma formed from rare earth-doped chalcogenide glasses, directly confirming the importance of gallium presence for rare earth bonding within the glassy matrix.	chalcogenide glasses; mass spectrometry; clusters; erbium

Vyhledávání

Přihlášení pro studenty

Přihlášení pro zaměstnance

Publikace detail

Katedry

Ústavy a pracoviště

Jak nás najdete?

Služby

Často hledáte