Publikace detail

Accurate Determination of Optical Functions of Ge-As-Te Glasses via Spectroscopic Ellipsometry

Autoři: Hawlová Petra | Verger Frederic | Nazabal Virginie | Boidin Rémi | Němec Petr

Rok: 2014

Druh publikace: článek v odborném periodiku

Název zdroje: Journal of the American Ceramic Society

Název nakladatele: Blackwell Publishing

Místo vydání: Malden

Strana od-do: 3044-3047

Tituly:

Jazyk	Název	Abstrakt	Klíčová slova
cze	Přesné určení optických funkcí skel Ge-As-Te pomocí spektrální elipsometrie	Spektrální elipsometrie s proměnným úhlem dopadu byla použita k charakterizaci optických funkcí chalkogenidových skel ze systému Ge-As-Te v širokém spektrálním rozsahu (300nm-20mum). Naměřené reálné a imaginární části pseudodielektrické funkce byly modelovány Cody-Lorentzovým přístupem a Sellmeierovou rovnicí. Velmi dobrá shoda mezi experimentálně změřenými a modelovanými imaginárními a reálnými částmi pseudodielektrických funkcí vede k přesnému určení optických funkcí (index lomu, extinkční koeficient) studovaných Ge-As-Te skel v extrémně široké spektrální oblasti pokrývající UV-Vis-NIR-MIR. Metoda je obecně aplikovatelná pro další skla a amorfní materiály.	chalkogenidová skla; Ge-As-Te; spektrální elipsometrie
eng	Accurate Determination of Optical Functions of Ge-As-Te Glasses via Spectroscopic Ellipsometry	Variable angle spectroscopic ellipsometry technique was used to characterize optical functions of chalcogenide glasses from Ge-As-Te system in broad spectral range (300nm-20mum). Measured real and imaginary parts of pseudodielectric function were modeled with Cody-Lorentz approach and Sellmeier equation. Very good agreement between experimentally measured and modeled imaginary and real parts of pseudodielectric functions leads to precise determination of optical functions (refractive index, extinction coefficient) of studied Ge-As-Te glasses in extremely broad spectral range covering UV-Vis-NIR-MIR. The method is generally applicable for other glasses and amorphous materials.	chalcogenide glasses; Ge-As-Te; spectroscopic ellipsometry

Vyhledávání

Přihlášení pro studenty

Přihlášení pro zaměstnance

Publikace detail

Katedry

Ústavy a pracoviště

Jak nás najdete?

Služby

Často hledáte