Univerzita PardubiceFakulta chemicko- technologická

Univerzita Pardubice

Zaměstnanci
|
Studenti
English

Publikace detail

Mikroskopie atomárních sil: Od zobrazení jednotlivých atomů až ke tkáňovému inženýrství.

Autoři: Knotek Petr

Rok: 2014

Druh publikace: ostatní - přednáška nebo poster

Strana od-do: nestránkováno

Tituly:

Jazyk	Název	Abstrakt	Klíčová slova
cze	Mikroskopie atomárních sil: Od zobrazení jednotlivých atomů až ke tkáňovému inženýrství.	Nanotechnologie využívá na začátku 21. století mikroskopií jako klíčových charakterizačních technik. Vzhledem k velikosti zobrazovaných částic není ale možné používat běžné optické mikroskopy, ale využívá se zejména mikroskopie atomárních sil nebo elektronových mikroskopií. V této přednášce budou shrnuty základní informace o mikroskopii atomárních sil (AFM), základním principu a měřících modech. Potenciál metody bude ukázán na různých příkladových studiích, které budou zahrnovat atomární rozlišení, aplikaci v materiálovém výzkumu tenkých chalkogenidových filmů, tkáňovým inženýrství či materiálů pro řízenou distribuci léčiv.	atomic force microscopy; application