Publikace detail

Study of amorphous thin films of Ge-As-Se system using laser desorption ionisation time-of-flight mass spectrometry

Autoři: Švihlová K. | Prokeš L. | Alberti M. | Němec Petr | Havel J.

Rok: 2014

Druh publikace: ostatní - přednáška nebo poster

Strana od-do: nestránkováno

Tituly:

Jazyk	Název	Abstrakt	Klíčová slova
eng	Study of amorphous thin films of Ge-As-Se system using laser desorption ionisation time-of-flight mass spectrometry	Study of amorphous thin films of Ge-As-Se system using laser desorption ionisation time-of-flight mass spectrometry was performed.	mass spectrometry; amorphous chalcogenides; thin films; PLD

Vyhledávání