Publikace detail

Multifractal Characterization of Water Soluble Copper Phthalocyanine Based Films Surfaces

Rok: 2014

Druh publikace: článek v odborném periodiku

Název zdroje: Electronic Materials Letters

Název nakladatele: Korean Institute of Metals and Materials

Místo vydání: Seoul

Strana od-do: 719-730

Tituly:

Jazyk	Název	Abstrakt	Klíčová slova
cze	Multifraktální charakterizace povrchů ve vodě rozpustných tenkých vrstev ftalocyaninů mědi	Tento článek prezentuje multifraktální přístup k charakterizaci strukturní komplexity 3D povrchové drsnosti CuTsPc vrstev na skle a křemenném substrátu získanou mikroskopií atomárních sil (AFM). Byly zkoumány CuTsPc vrstvy připravené metodou drop casting. Povrchová drsnost CuTsPc vrstev byla studována AFM v poklepovém módu, v prostředí vody a na čtvercové ploše 100 um2 a 2500 um2. Detailní metodologie pro charakterizaci multifraktální analýzy CuTsPc vrstev, která může být aplikována pro AFM data, byla také prezentována. Analýza povrchové drsnosti objevila, že CuTsPc vrstvy mají multifraktální geometrii při různých zvětšeních. Zobecněná dimenze Dq a spektrum singularity f(alfa) poskytly kvantitativní hodnoty, které charakterizují vlastnosti v lokálním měřítku CuTsPc vrstev v nanoměřítku. Multifraktální analýza poskytuje různé další komplementární informace k těm, které poskytují tradiční povrchové statistické parametry.	organické polovodiče; CuTsPc vrstvy; mikroskopie atomárních sil, multifraktální analýza, povrchová drsnost
eng	Multifractal Characterization of Water Soluble Copper Phthalocyanine Based Films Surfaces	This paper presents a multifractal approach to characterize the structural complexity of 3D surface roughness of CuTsPc films on the glass and quartz substrate, obtained with atomic force microscopy (AFM) analysis. CuTsPc films prepared by drop cast method were investigated. CuTsPc films surface roughness was studied by AFM in tappingmode (TM), in an aqueous environment, on square areas of 100 mu m(2) and 2500 mu m(2). A detailed methodology for CuTsPc films surface multifractal characterization, which may be applied for AFM data, was also presented. Analysis of surface roughness revealed that CuTsPc films have a multifractal geometry at various magnifications. The generalized dimension D-q and the singularity spectrum f(alpha) provided quantitative values that characterize the local scale properties of CuTsPc films surface morphology at nanometer scale. Multifractal analysis provides different yet complementary information to that offered by traditional surface statistical parameters.	organic semiconductors; CuTsPc films; atomic force microscopy; multifractal analysis; surface roughness

Vyhledávání

Přihlášení pro studenty

Přihlášení pro zaměstnance

Publikace detail

Katedry

Ústavy a pracoviště

Jak nás najdete?

Služby

Často hledáte