Přejít k hlavnímu obsahu

Přihlášení pro studenty

Přihlášení pro zaměstnance

Publikace detail

Study of band inversion in the PbxSn1-xTe class of topological crystalline insulators using x-ray absorption spectroscopy
Autoři: Mitrofanov K. V. | Kolobov A. V. | Fons P. | Krbal Miloš | Tominaga J. | Uruga T.
Rok: 2014
Druh publikace: článek v odborném periodiku
Název zdroje: Journal of Physics: Condensed Matter
Název nakladatele: Institute of Physics Publishing Ltd
Místo vydání: Bristol
Strana od-do: "475502-1"-"475502-4"
Tituly:
Jazyk Název Abstrakt Klíčová slova
cze Studie pásové inverze v PbxSn1-xTe třídě topologických krystalických izolátorů s použitím rengenové absorpční spektroskopie PbxSn1−xTe and PbxSn1−xSe krystaly patří do skupiny topologických krystalických isolátorů, kde topologická ochrana je dosažena symetrií krystalů spíše než časově obrácených (time-reversal) symetrií. V této práci jsme využili selekčních pravidel během absorpce RTG záření k detekci pásové inverze podél linie PbTe(Se)-SnTe(Se). Pozorovaná významná změna v poměru intenzit L1 a L3 přechodů podél studované linie demonstruje, že absorpce RTG záření může být užitečný nástroj ke studiu pásová inverze v topologických izolátorech. rentgenová absorpce; topologické izolátory; pásová inverze
eng Study of band inversion in the PbxSn1-xTe class of topological crystalline insulators using x-ray absorption spectroscopy PbxSn1-xTe and PbxSn1-x Se crystals belong to the class of topological crystalline insulators where topological protection is achieved due to crystal symmetry rather than time-reversal symmetry. In this work, we make use of selection rules in the x-ray absorption process to experimentally detect band inversion along the PbTe(Se)-SnTe(Se) tie-lines. The observed significant change in the ratio of intensities of L-1 and L-3 transitions along the tie-line demonstrates that x-ray absorption can be a useful tool to study band inversion in topological insulators. x-ray absorption; topological insulators; band inversion