Přihlášení pro studenty

Přihlášení pro zaměstnance

Publikace detail

Surface Roughness Characterization of ZnO:TiO2-Organic Blended Solar Cells Layers by Atomic Force Microscopy and Fractal Analysis
Autoři: Ţălu Ş. | Stach S. | Ikram M. | Pathak Dinesh | Wágner Tomáš | Nunzi J.M.
Rok: 2014
Druh publikace: článek v odborném periodiku
Název zdroje: International Journal of Nanoscience
Název nakladatele: World Scientific Publishing Co.
Strana od-do: 1450020-1450032
Tituly:
Jazyk Název Abstrakt Klíčová slova
cze Charakterizace povrchové drsnosti ZnO:TiO2 organických míchaných solárních vrstev mikroskopií atomárních sil a fraktální analýzou Cílem této práce bylo charakterizovat 3D komplexitu ZnO:TiO2- v hybridních strukturách organických solárních článků studiem AFM a fraktálové analýzy. Byla určena detailní morfologie povrchu s využitím poklepového módu na ploše 25 μm2. Podrobná charakterizace povrchu byla vedena podle normy ISO 25178-2: 2012. Rozměry fraktálů Df (s průměrnou a standartní odchylkou) byly získány pomoci “envelope”, kde směs D1 (P3HT:PCBM:ZnO:TiO2 směs v poměru 1:0.35:0.175:0.175 mg v 1ml chlorobenzenu) byla Df Ľ 2:55 _ 0:01; a směs D2 (P3HT:PCBM:ZnO:TiO2 směs v poměru 1:0.55:0.075:0.075 mg v 1ml chlorobenzenu) is Df Ľ 2:45 _ 0:01. 3D hrubost na povrchu vzorků odhalila velikosti fraktalů na nanometrové úrovni. Fraktaolová analýza by měla mít dopad i na hodnocení povrchu průmyslově připravených vzorků. Mikroskopie atomárních sil; fraktální analýza; fraktální rozměr; směsné organické solární články; povrchová drstnost
eng Surface Roughness Characterization of ZnO:TiO2-Organic Blended Solar Cells Layers by Atomic Force Microscopy and Fractal Analysis The objective of this work is to quantitatively characterize the 3D complexity of ZnO:TiO2- organic blended solar cells layers by atomic force microscopy and fractal analysis. ZnO:TiO2- organic blended solar cells layers were investigated by AFM in tapping-mode in air, on square areas of 25 μm2. A detailed methodology for ZnO:TiO2-organic blended solar cells layers surface fractal characterization, which may be applied for AFM data, is presented. Detailed surface characterization of the surface topography was obtained using statistical parameters, according with ISO 25178-2: 2012. The fractal dimensions Df values (all with average_standard deviation), obtained with morphological envelopes method, for: blend D1 (P3HT:PCBM:ZnO:TiO2 blend with ratio 1:0.35:0.175:0.175 mg in 1ml of Chlorobenzene) is Df Ľ 2:55 _ 0:01; and for blend D2 (P3HT:PCBM:ZnO:TiO2 blend with ratio 1:0.55:0.075:0.075 mg in 1ml of Chlorobenzene) is Df Ľ 2:45 _ 0:01. Denoting the ratios in 1ml of Chlorobenzene with D1 and D2 articles. The 3D surface roughness of samples revealed a fractal structure at nanometer scale. Fractal and AFM analysis may assist manufacturers in developing ZnO:TiO2-organic blended Atomic force microscopy; fractal anaylsis; fractal dimension; organic blended solar cell; surface roughness

Katedry

Ústavy a pracoviště

Jak nás najdete?

zobrazit na mapy.cz

Služby

Často hledáte

© 2023 Univerzita Pardubice, Studentská 95, 532 10 Pardubice 2
Telefon: 466 036 111, 466 036 112, 466 036 113
Správce webu, RSS
ID datové schránky: f5vj9hu
Prohlášení o přístupnosti
CC BY-NC-ND 4.0 CZ