Přejít k hlavnímu obsahu

Přihlášení pro studenty

Přihlášení pro zaměstnance

Publikace detail

XPS for the analysis of amorphous chalcogenides-based photosensitive thin films
Autoři: Němec Petr | Cardinaud Christophe | Boidin Rémi | Olivier Mélinda | Nazabal Virginie
Rok: 2015
Druh publikace: ostatní - přednáška nebo poster
Strana od-do: nestránkováno
Tituly:
Jazyk Název Abstrakt Klíčová slova
eng XPS for the analysis of amorphous chalcogenides-based photosensitive thin films X-ray photoelectron spectroscopy was used for the analysis of amorphous chalcogenides-based photosensitive thin films from Ge-Sb-Se system prepared by pulsed laser deposition. XPS; thin films; amorphous chalcogenides; pulsed laser deposition