Přejít k hlavnímu obsahu

Přihlášení pro studenty

Přihlášení pro zaměstnance

Publikace detail

Light and electron beam induced surface patterning in Ge-Se system
Autoři: Csarnovics I. | Cserhati C. | Kökényesi S. | Latif M.R. | Mitkova M. | Němec Petr | Hawlová Petra | Nichol T. | Veres M.
Rok: 2016
Druh publikace: článek v odborném periodiku
Název zdroje: Journal of Optoelectronics and Advanced Materials
Strana od-do: 793-797
Tituly:
Jazyk Název Abstrakt Klíčová slova
cze Světlem a elektronovým svazkem indukované vzorování povrchu v systému Ge-Se Homogenní tenké vrstvy Gex-Se1-x byly připraveny termickým napařováním a pulzní laserovou depozicí. Elektronovým svazkem a světlem byly na povrchu chalkogenidových vzorků vytvořeny geometrické struktury. Morfologie vytvořených reliéfů byla zkoumána mikroskopií atomárních sil. Byly studovány různé aspekty mechanismu záznamu povrchových reliéfů, spolu s se závislostí výšky profilu reliéfu na koncentraci chalkogenu. Bylo určeno složení a parametry záznamu poskytující nejlepší výsledky. tenké vrstvy; amorfní chalkogenidy; termické napařování; pulzní laserová depozice
eng Light and electron beam induced surface patterning in Ge-Se system Homogeneous Gex-Se1-x thin layers have been prepared by thermal evaporation and pulsed laser deposition technique. Geometrical structures were formed on the surface of the chalcogenide samples by electron beam and photon irradiation methods. The morphology of the created reliefs was investigated by atomic force microscopy. The different aspects of the mechanism of surface relief recording were studied, together with the dependence of the surface relief profile heights on the chalcogen concentration. In addition, the compositions and recording parameters giving the best results were determined. thin films; amorphous chalcogenides; thermal evaporation; pulsed laser deposition