Přihlášení pro studenty

Přihlášení pro zaměstnance

Publikace detail

Solution processed Ge20Sb5S75 thin films: the effect of solution concentration and multiple layers stacking
Rok: 2019
Druh publikace: článek v odborném periodiku
Název zdroje: Optical Materials Express
Název nakladatele: Optical Society of America
Místo vydání: Washington, DC
Strana od-do: 4360-4369
Tituly:
Jazyk Název Abstrakt Klíčová slova
cze Z roztoku připravené tenké vrstvy Ge20Sb5S75: efekt koncentrace roztoku a násobného nanášení vrstev Vrstvy Ge20Sb5S75 s vysokou chemickou odolností vůči alifatickým aminům byly připraveny z roztoků o různých koncentracích skla (0.015-0.09 g nadrceného skelného materiálu na ml n-butylaminu) pomocí metody spin-coating. Čerstvě připravené a temperované tenké vrstvy byly analyzovány pomocí spektroskopické elipsometrie a EDS (energiově-disperzní rentgenové analýzy). Výsledky potvrdily že index lomu tenkých vrstev nebyl ovlivněn koncentrací roztoku (ve studovaném rozsahu koncentrací) a studované optické vlastnosti deponovaných vrstev byly homogenní v tloušťce materiálu. Roztok Ge20Sb5S75 o nejvyšší koncentraci (0.09 g/ml) byl zvolen pro depozici tlustších chalkogenidových vrstev pomocí multinásobné procedury depozice a tepelné stabilizace. Připravené multivrstvy měly dobrou optickou kvalitu a homogenní chemickou odolnost v celém svém objemu. Na základě dat z leptacích kinetik a SEM scanů nebyla pozorována žádná rozhraní mezi jednotlivými vrstvami. výsledky tedy potvrdily, že metoda multinásobné depoziční procedury je vhodná pro přípravu tlustších homogenních vrstev složení Ge20Sb5S75. vrstvy chalkogenidových skel
eng Solution processed Ge20Sb5S75 thin films: the effect of solution concentration and multiple layers stacking Ge20Sb5S75 thin films with high chemical resistance to aliphatic amines were deposited from solutions of various glass concentrations (0.015-0.09 g of grinded glass material/ml of n-butylamine) by the spin-coating technique. As-prepared and annealed thin films were analyzed by spectroscopic ellipsometry and EDS (energy-dispersive X-ray spectroscopy). Results proved that the refractive index of thin films was not affected by the solution concentration (within studied range), and the studied optical properties of deposited samples were homogenous in their volume. The Ge20Sb5S75 solution of the highest concentration (0.09 g/ml) was chosen for deposition of thicker chalcogenide glass material using multiply deposition/thermal stabilization procedure. Prepared multilayers proved to have good optical quality and homogenous chemical resistance through the whole thickness. No interfaces between layers were observed from etching kinetics and SEM scans. Thus, the results confirmed that multiple layers stacking procedure is suitable for deposition of thick homogenous Ge20Sb5S75 thin films. chalcogenide glass-films

Katedry

Ústavy a pracoviště

Jak nás najdete?

Služby

Často hledáte

© 2023 Univerzita Pardubice, Studentská 95, 532 10 Pardubice 2
Telefon: 466 036 111, 466 036 112, 466 036 113
Správce webu, RSS
ID datové schránky: f5vj9hu
Prohlášení o přístupnosti
Drupal web od drupal web Drupal ᐬrts