Publikace detail

Cadmium selenide by XPS

Autoři: Ospina Rogelio | Rincon-Ortiz Sergio A | Rodriguez Pereira Jhonatan

Rok: 2020

Druh publikace: článek v odborném periodiku

Název zdroje: Surface Science Spectra

Název nakladatele: American Institute of Physics

Místo vydání: Melville

Strana od-do: "014021-1"-"014021-8"

Tituly:

Jazyk	Název	Abstrakt	Klíčová slova
cze	Selenid kadmia pomocí XPS	Selenid kadmia (CdSe) byl analyzován pomocí rentgenové fotoelektronové spektroskopie (XPS). Vzorek představoval přáške od společnosti Chemsavers. Vzorek byl uchycen na ocelový držák a mědenou oboustrannou lepící 3M pásku. V přehledovém spektru byly měřeny struktury jader Cd 3d, Se 3d, O 1s, Cd 3p, Cd MNN, Se LMM, Se 3p, C 1s, and Cd 4d a také spektra valenčních pásů. Kvantitativní analýza indikovala povrchové stechiometrii 0.95.	CdSe; metal dichalcogenides; XPS; polovodič
eng	Cadmium selenide by XPS	Cadmium selenide was analyzed using x-ray photoelectron spectroscopy. The specimen is a powder purchased from Chemsavers. The sample was fixed to a stainless-steel sample holder with copper 3M (TM) double-sided adhesive tape. Survey spectra, Cd 3d, Se 3d, O 1s, Cd 3p, Cd MNN, Se LMM, Se 3p, C 1s, and Cd 4d core level along with the valence band spectra were recorded. Results point out a stoichiometry of 0.95 on surface.	CdSe; XPS; metal chalcogenide; semiconductor

Search