Publikace detail

Niobium ethoxide analyzed by XPS

Autoři: Rincon-Ortiz Sergio A | Rodriguez Pereira Jhonatan | Ospina Rogelio

Rok: 2020

Druh publikace: článek v odborném periodiku

Název zdroje: Surface Science Spectra

Název nakladatele: American Institute of Physics

Místo vydání: Melville

Strana od-do: "024014-1"-"024014-8"

Tituly:

Jazyk	Název	Abstrakt	Klíčová slova
cze	Etoxid niobu analyzovaný pomocí XPS	Etoxid niobu (V) byl analyzován pomocí rentgenové fotoelektronové spektroskopie (XPS). Vzorek představoval prášek od společnosti Sigma Aldrich. Vzorek byl uchycen na ocelový držák a mědenou oboustrannou lepící 3M pásku. V přehledovém spektru byly měřeny struktury jader Nb 3d, O 1s, C 1s, Nb 3p, Nb 4p, O 2s a také spektra valenčních pásů. Kvantitativní analýza povrdila očekávanou stechiometrii vzorku.	etoxid niklu; XPS; prekurzor
eng	Niobium ethoxide analyzed by XPS	Niobium (V) ethoxide was characterized by x-ray photoelectron spectroscopy. The specimen is a powder purchased from Sigma Aldrich. The sample was fixed to a stainless-steel sample holder with a copper double-sided adhesive tape. Survey spectra, Nb 3d, O 1s, C 1s, Nb 3p, Nb 4p, O 2s core levels, and valence band spectra were acquired. Results showed how the elements in the niobium ethoxide structure are bonded.	niobium ethoxide; XPS; precursor

Search