Publikace detail

Sildenafil tablet analyzed by XPS

Autoři: Rodriguez Pereira Jhonatan | Rincon-Ortiz Sergio A. | Ospina Rogelio

Rok: 2020

Druh publikace: článek v odborném periodiku

Název zdroje: Surface Science Spectra

Strana od-do: "024016-1"-"024016-10"

Tituly:

Jazyk	Název	Abstrakt	Klíčová slova
cze	Tableta sildenafilu analyzovaná pomocí XPS	Tableta sildenafilu byla analyzována pomocí rentgenové fotoelektronové spektroskopie (XPS). Vzorek Vzorek byl uchycen na ocelový držák a mědenou oboustrannou lepící 3M pásku. V přehledovém spektru byly měřeny struktury jader C 1s, O 1s, N 1s, S 2p, Si 2p, Mg 1s, a Na 1s. Výsledky prokázaly přítomnost C, O, N, S, tj. Prvků, které tvoří tuto tabletu, nicméně C a O jsou take v přísadach tablet (excipientech). Navíc byly prokázána přítomnost S, Na, a Mg, které také tvoří excipienty.	Sildenafil; XPS; organické látky; medicína
eng	Sildenafil tablet analyzed by XPS	Sildenafil tablet was analyzed by x-ray photoelectron spectroscopy. Sample was fixed to a stainless-steel sample holder with a copper double-sided adhesive tape. Survey spectrum, C 1s, O 1s, N 1s, S 2p, Si 2p, Mg 1s, and Na 1s core levels spectra were acquired. Results showed the presence of carbon, oxygen, nitrogen, and sulfur, elements that constitute sildenafil; however, carbon and oxygen are also found in other ingredients (excipients). Additionally, the presence of silicon, sodium, and magnesium is associated with excipients.	Sildenafil; XPS; organic compounds; medicines

Vyhledávání