Publikace detail

Remarkable difference in structural relaxation dynamics of conventionally prepared bulk glass and vapor-deposited thin films

Autoři: Málek Jiří | Svoboda Roman

Rok: 2024

Druh publikace: článek v odborném periodiku

Název zdroje: Journal of Chemical Physics

Název nakladatele: American Institute of Physics

Místo vydání: Melville

Strana od-do: 074507

Tituly:

Jazyk	Název	Abstrakt	Klíčová slova
cze	Pozoruhodný rozdíl v dynamice strukturální relaxace konvenčně připraveného objemového skla a tenkých filmů připravených odpařováním	Dynamika strukturální relaxace konvenčně připraveného objemového skla N,N'-bis(3-methylfenyl)-N,N'-difenyl-benzidinu (TPD) byla měřena pomocí diferenční skenovací kalorimetrie. Kalorimetrická data byla kvantitativně popsána pomocí modelu Tool-Narayanaswamy-Moynihan (TNM). Parametry TNM byly vyhodnoceny kombinací linearizačních a nelineárních optimalizačních metod: h*/R = 109,5 kK, ln(A/s) = -321, beta = 0,37, x = 0,64. Kromě toho byla TNM fenomenologie použita k popisu nedávno zveřejněných normalizovaných dat tloušťky stabilních a stárnutých tenkých filmů TPD měřených elipsometrií. Bylo zjištěno, že strukturální relaxace probíhá výrazně rychleji v těchto tenkých filmech připravených metodou fyzikální depozice z páry ve srovnání s konvenčním objemovým sklem. Tato vlastnost se zdá být spojena s výrazně užším rozložením relaxačních časů (beta přibližně 0,8), pozorovaným u stabilního tenkého filmu v jeho „jak-deponované“ formě s jedinečně hustým molekulárním uspořádáním. Zajímavé je, že velmi podobné vlastnosti kinetiky relaxace byly nalezeny i u stárnutého tenkého filmu s dříve vymazanou tepelnou historií spojenou s depozicí.	entalpická relaxace; tepelná stabilita; historie; sklo; film
eng	Remarkable difference in structural relaxation dynamics of conventionally prepared bulk glass and vapor-deposited thin films	"The structural relaxation dynamics of conventionally prepared bulk glass of N,N '-bis(3-methylphenyl)-N,N '-diphenyl-benzidine (TPD) was measured by differential scanning calorimetry. The calorimetric data were quantitatively described in terms of the Tool-Narayanaswamy-Moynihan (TNM) model. The TNM parameters were evaluated using a combination of linearization and non-linear optimization methodologies: h*/R = 109.5 kK, ln(A/s) = -321, beta = 0.37, x = 0.64. In addition, the TNM phenomenology was used to describe recently reported normalized thickness data of stable and aged thin TPD films measured by ellipsometry. The structural relaxation was found to proceed at a markedly higher rate in these thin films prepared by the physical vapor deposition compared to that of conventional bulk glass. This feature appears to be associated with the significantly narrower distribution of relaxation times (beta congruent to 0.8) observed for stable thin film in ""as-deposited"" form with uniquely dense molecular packing. Interestingly, very similar attributes of the relaxation kinetics were also found in the aged thin film with a previously erased thermal history associated with the deposition."	enthalpy relaxation; thermal-stability; recovery; history

Vyhledávání

Přihlášení pro studenty

Přihlášení pro zaměstnance

Publikace detail

Katedry

Ústavy a pracoviště

Jak nás najdete?

Služby

Často hledáte