Přístroj Solver Next obsahuje dvě měřící hlavy SPM a AFM, pro měření na vzduchu i v kapalině, pomocí kontaktního, semikontaktního a nekontaktního módu. Mikroskop atomárních sil (AFM) v kapalině umožňuje měřit boční síly pomocí zobrazovacího i modulačního módu, adhezní silové mapování i AFM litografii. STM, MFM, EFM, SCN a AFM litografie s možností měření na vzduchu za laboratorních podmínek. Měření je možné provádět až do 130°C s využitím vyhřívaného stolku. Je možné měřit vzorky o průměru 20 mm a maximální výšce 10 mm a hmotností do 40g. Rozsah skenovací plochy je 100x100x10 µm (±10%), ve vysokém rozlišení 3x3x2,6 µm. Nanoindentační hlava s polohovacím senzorem a Berkovichovým nanoindentorem ve tvaru trojboké pyramidy se využívá ke skenování topografie povrchu, tvrdosti a lokálního koeficientu elasticity. Měření tvrdosti probíhá v rozsahu 1 – 100 GPa, Youngům modul pružnosti až do 1000 GPa.
