Přejít k hlavnímu obsahu

Přihlášení pro studenty

Přihlášení pro zaměstnance

elektronova-mikroskopie-sem-5600112866.jpg
  • (se snímací hlavou s vysokou rozlišovací schopností Nikon DS-Fi1 a softwarem NIS Elements AR pro obrazovou analýzu) 

Nedestruktivní metoda, která používá pro zkoumání materiálu viditelné světlo. Rozliš ovací schopnost je obvykle uváděna do 0,1 μ m. Optický mikroskop je vybaven univerzálními objektivy se zvětšením 5x – 50x, žárovkovou osvětlovací soustavou pro horní (episkopický) i spodní (diaskopický) osvit. Osvětlovací soustava umožňuje snímání nejen v běžném režimu (bright field) ale také v režimu běžné polarizace a při horním osvitu také režim šikmého osvětlení (dark field). Mikroskop je dále vybaven motorizovaným stolkem Prior H105NL12. Snímací hlava umožňuje barevné snímání, vlastní rozlišení CCD čipu je 5,07 Mpix, nejvyšší rychlost snímání je při rozlišení výstupního obrazu 2560x1920 pix 7,2 snímků za sekundu. Vznik obrazu u běžné polarizace je umožněn změnou orientace roviny polarizovaného světla při průchodu vzorkem. Obraz nám dává informaci o reliéfu povrchu, případně o optických vlastnostech různých průhledných vrstev na vzorku.