Výzkum fotoindukovaných změn v chalkogenidových sklech systému Ge-Sb-S v makro- i nano-měřítku
Poskytovatel: Grantová agentura ČR
Program: Postdoktorské projekty (řešení od 1.1.2012)
Období realizace: 01.01.12 - 31.12.14
Pracoviště:
Fakulta chemicko-technologická - SLChPL/věda
Hlavní řešitel: Knotek Petr
Popis:
Projekt je zaměřen na studium foto-indukovaných jevů v chalkogenidovém systému Ge-Sb-S ve formě objemových skel i tenkých filmů, tzn. materiálech využitelných v opto-elektronice, optických vláknech nebo nelineárních optických elementech. Cílem projektu je popis předpokládaných dobře kontrolovatelných změn projevujících se expanzí materiálu, změnou indexu lomu, stupněm krystalizace, oxidace nebo zničením materiálu vyvolaných monochromatickým světlem s energiemi většími, blízkými a menšími v porovnání s opticky zakázaným pásem materiálu. K tomu bude využito různých technik mikroskopie atomárních sil (AFM) umožňující studovat změny v materiálu v nano/meso měřítku (nano-fázová separace, růst mikrokrystalů nebo mapování mechanických vlastností) a získaná data budou porovnána s makroskopickými změnami optických parametrů (růst tloušťky filmu, změna indexu lomu nebo velikosti opticky zakázaného pásu) a strukturou materiálu (odvozené pomocí infračervené a mikro-Ramanovy spektroskopie). Dále budou určeny hraniční intenzity světla různých vlnových délek.
Projekt je zaměřen na studium foto-indukovaných jevů v chalkogenidovém systému Ge-Sb-S ve formě objemových skel i tenkých filmů, tzn. materiálech využitelných v opto-elektronice, optických vláknech nebo nelineárních optických elementech. Cílem projektu je popis předpokládaných dobře kontrolovatelných změn projevujících se expanzí materiálu, změnou indexu lomu, stupněm krystalizace, oxidace nebo zničením materiálu vyvolaných monochromatickým světlem s energiemi většími, blízkými a menšími v porovnání s opticky zakázaným pásem materiálu. K tomu bude využito různých technik mikroskopie atomárních sil (AFM) umožňující studovat změny v materiálu v nano/meso měřítku (nano-fázová separace, růst mikrokrystalů nebo mapování mechanických vlastností) a získaná data budou porovnána s makroskopickými změnami optických parametrů (růst tloušťky filmu, změna indexu lomu nebo velikosti opticky zakázaného pásu) a strukturou materiálu (odvozené pomocí infračervené a mikro-Ramanovy spektroskopie). Dále budou určeny hraniční intenzity světla různých vlnových délek.
