Přejít k hlavnímu obsahu

Přihlášení pro studenty

Přihlášení pro zaměstnance

Publikace detail

Optical Properties and Phase Change Transition in Ge2Sb2Te5 Flash Evaporated Thin Films Studied by Temperature Dependent Spectroscopic Ellipsometry.
Autoři: Orava | Wágner Tomáš | Šik | Přikryl | Frumar Miloslav | Beneš Ludvík
Rok: 2008
Druh publikace: článek v odborném periodiku
Název zdroje: Journal of Applied Physics
Název nakladatele: American Institute of Physics
Místo vydání: Melville
Strana od-do: 043523-1-043523-9
Tituly:
Jazyk Název Abstrakt Klíčová slova
cze Optické vlastnosti a fázový přechod v tenkých vrstvách Ge2Sb2Te5 připravených mžikovým napařováním studované teplotně závislou spektroskopickou elipsometrií. Teplotně závislou spektroskopickou elipsometrií byly studovány optické vlastnosti a fázový přechod v tenkých vrstvách Ge2Sb2Te5 připravených mžikovým napařováním. amorfní chalkogenidy, tenké vrstvy, fázové změny, elipsometrie
eng Optical Properties and Phase Change Transition in Ge2Sb2Te5 Flash Evaporated Thin Films Studied by Temperature Dependent Spectroscopic Ellipsometry. Optical properties and phase change transition in Ge2Sb2Te5 flash evaporated thin films were studied by temperature dependent spectroscopic ellipsometry. amorphous chalcogenides, thin films, phase transitions, ellipsometry